活动

EDPS 2020

Amkor Technology 邀请您和我们一起参加在 2020 年 9 月 30 日 – 2020 年 10 月 1 日举办的 Electronic Design Process Symposium (EDPS) 免费虚拟活动。EDPS 2020 是关于先进芯片和系统设计制程的重要论坛。

Amkor 的 FCBGA 高级总监 Gerard John 将在太平洋标准时间 10 月 1 日下午 5:50 发表题为 “Using Machine Learning to Optimize Semiconductor Test” 的演讲。

摘要：

机器学习 (ML) 是人工智能领域的一门工程学科，它基于系统可以从数据中学习，识别模式并在最低程度的人类干预下做出决策的概念。ML 常被用作预测工具，分析大量数据，对分析模型构建进行自动化，并为用户（人类、机器或调用函数）提供事件发生概率。迄今为止，测试社区还没有完全接纳 ML，并在处理范式转移（亦即以由 ML 算法选择的测试套件取代传统的产品测试套件）时继续以怀疑的态度看待 ML。这种怀疑主义可能是多种因素的结果，例如，对 ML 的不熟悉、对它的功能一知半解，缺少可被简单运用的工具，以及对识别数据的机器进行训练的流程涉及太多工作量。另外，运行 ML 所建议的精简测试套件，可能导致测试难以捕捉某些情境，而且对产品质量造成潜在影响。此演讲以开短路测试为例，阐述如何利用 ML 优化半导体测试。