NIST Semiconductor Metrology R&D Workshop

2022年4月20日~21日(午前10:00~午後2:00、米国東部標準時)に開催され、Amkor Technologyが登場する「NIST Semiconductor Metrology R&D Workshop」にぜひご参加ください。このウェビナーでは、マイクロエレクトロニクスにおける技術革新のエコシステムを網羅しながら、計測科学、規格開発、計測サービスの面から米国産業界をサポートするための最適なアプローチを特定していきます。

Amkorからは、FCBGA BUのシニアディレクターを務めるGerard Johnが、4月20日午後1:00~午後2:00(米国東部標準時)に行われる「Novel Metrologies for Advanced Packaging(先進的パッケージング向けの斬新な計測手法)」のセッションにパネリストとして登壇します。本セッション終了後には、質疑応答の時間も設定されています。

司会進行役:Jan Vardaman氏、TechSearch International社

追加のパネリスト:

  • Deepak Kulkarni氏、AMD社
  • Raj Kumar氏、TTM Technologies社
  • Dale McHerron氏、IBM Research社
開催日:2022年4月20日~2022年4月21日 場所:バーチャル 開催地:バーチャル

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